Установка позволяет искать уязвимости в чипах и оценивать их стойкость к физическим атакам. Комплекс применим к компонентам, используемым в банкоматах, платежных картах, смартфонах, IoT-устройствах, автомобильных блоках управления и космической технике.
LFI‑26 осуществляет лазерное внедрение сбоев: после частичного вскрытия корпуса луч воздействует на конкретные транзисторы и вносит контролируемые ошибки. Такое моделирование атак дает возможность выявлять уязвимости. Кроме того, лазерный комплекс позволяет изучать работу чипа (утечку информации, потребление энергии) и структуру микросхемы.
Ранее в России не было собственных установок такого класса — до 2022 года использовались зарубежные аналоги. Комплекс LFI‑26 закрывает этот технологический пробел и дает независимый инструмент для проверки безопасности микроэлектроники.
