Компания «Дейтона» и НПП «Радар ммс» разрабатывают два аналога американских систем Cognex-ViDi и Visual Inspection AI. Российское программное обеспечение для проверки качества микроэлектронных изделий должно появиться уже к 2026 году.
В настоящее время систему оптического выявления дефектов от «Дейтоны» тестируют на некоторых предприятиях группы компаний «Элемент». Решение позволяет сократить время машинного обучения при увеличении объемов выпускаемой продукции. Это происходит за счет улучшения технологии выборки изделий с дефектами. Кроме того, система повышает качество выявления дефектных изделий и оптимизирует расходы на производство электроники.
Компания «Радар ммс», в свою очередь, разрабатывает софт на основе нейронной сети с глубоким машинным обучением. Он необходим для систем визуального контроля дефектов.
Серийные образцы решений планируется создать до конца 2026 года, а с 2027 года начать их масштабное внедрение, сообщают «Ведомости».
